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产品展示 / List

产品名称:金相测量立体显微镜

品牌:HLEO
型号:HL-6065C
产品简介:

HLEO金相测量显微镜采用光学自动化检测设备,主要用于LCB、PDP、PCB等相关的光电产业,为其研发、制造提供所需的检测设备。具有观察OLB压接粒子分布、液晶板表面贴附的异物、液晶板划伤情况、测量导电粒子大小、数量等功能。

产品概述&参数:

仪器参数:

仪器型号

JTM-6065C

 

工作台

玻璃台尺寸(mm)

750*650

运动行程(mm)

650*600

仪器重量(kg)

800

外形尺寸(mm)

1270*1150*1860

Z轴电动升降行程

200 mm

X、Y、Z数显分辨力

0.5μm

工作距离

92 mm

X、Y坐标示值误差

(2.5+L/200) μm (L为被测长度,单位:mm)

 


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